NF S92-062-2004 实验室医学.参考测量实验室的要求
作者:标准资料网 时间:2024-05-12 09:10:45 浏览:8438
来源:标准资料网
【英文标准名称】:Laboratorymedicine-Requirementsforreferencemeasurementlaboratories.
【原文标准名称】:实验室医学.参考测量实验室的要求
【标准号】:NFS92-062-2004
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2004-09-01
【实施或试行日期】:2004-09-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:实验室;定义;质量保证;医疗技术学;诊断;标准参考测量方法;参比状态;质量管理;实验室医学;测量仪器;规范(验收);测量不确定度;医学科学
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:C37
【国际标准分类号】:11_100_01
【页数】:22P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:StandardTestMethodforSurfaceBurningCharacteristicsofBuildingMaterials
【原文标准名称】:建筑材料表面燃烧特性的标准试验方法
【标准号】:ASTME84-2003
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2003
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;材料;特性;施工材料;表面;火焰表面传播;防火安全;建筑物防火;建筑
【英文主题词】:constructionmaterials;surfaces;materials;surfacespreadofflame;properties;firesafety;firesafetyinbuildings;testing;construction
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q10
【国际标准分类号】:13_220_50;91_100_01
【页数】:19P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 硅退火片规范 |
英文名称: | Specification for silicon annealed wafers |
中标分类: |
冶金 >>
半金属与半导体材料 >>
半金属与半导体材料综合 |
ICS分类: |
电气工程 >>
半导体材料
|
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2011-01-10 |
实施日期: | 2011-10-01 |
首发日期: | 2011-01-10 |
作废日期: | |
主管部门: | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
归口单位: | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
起草单位: | 万向硅峰电子股份有限公司、有研半导体材料股份公司、宁波立立电子股份有限公司和杭州海纳半导体有限公司 |
起草人: | 楼春兰、孙燕、朱兴萍、宫龙飞、王飞尧、黄笑容、方强、汪成生、程国庆 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2011-10-01 |
页数: | 12页 |
适用范围
本标准规定了半导体器件和集成电路制造用硅退火抛光片的要求、试验方法、检验规则等。
本标准适用于线宽180nm、130nm 和90nm 工艺退火硅片。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料